介電常數(shù)介質損耗試驗機的三種試驗方法介紹

電容比較法

電容比較法是介電常數(shù)介質損耗因數(shù)試驗機常用的一種測量方法。其基本原理是將被測樣品與一個已知電容值的標準電容器并聯(lián)或串聯(lián)，通過測量兩者的總電容和損耗電流的差異，計算出被測樣品的介電常數(shù)和介質損耗因數(shù)。

在測試過程中，試驗機的信號源產(chǎn)生一個特定頻率的交變電壓，施加在被測樣品和標準電容器上。由于被測樣品和標準電容器的電容值不同，在相同的電壓下，它們的充電電流也會不同。通過測量兩者的電流差異以及電流與電壓之間的相位差，可以得到被測樣品的復電容值，進而計算出介電常數(shù)和介質損耗因數(shù)。

變頻電橋法

變頻電橋法是另一種常用的測量方法。它基于電橋平衡原理，通過調節(jié)電橋的頻率和阻抗，使電橋達到平衡狀態(tài)，從而測量出被測樣品的電容和損耗因數(shù)。

試驗機的變頻電源產(chǎn)生一個可調頻率的正弦波電壓，施加在電橋的輸入端。電橋的一臂連接被測樣品，另一臂連接一個可調的標準電容器或其他阻抗元件。通過調節(jié)電源頻率和標準電容器的電容值，使電橋的輸出電壓為零，此時電橋達到平衡狀態(tài)。根據(jù)電橋的平衡條件，可以計算出被測樣品的電容和損耗因數(shù)，進而得到介電常數(shù)和介質損耗因數(shù)。

高頻 Q 表法

高頻 Q 表法主要用于測量高頻下的介電常數(shù)和介質損耗因數(shù)。其原理是利用諧振電路的諧振頻率和品質因數(shù)（Q 值）來測量被測樣品的電容和損耗。

將被測樣品與一個已知電感值的線圈組成一個諧振電路，當諧振電路的頻率與被測樣品的諧振頻率相同時，電路發(fā)生諧振，此時通過測量諧振電路的諧振頻率和品質因數(shù)，可以計算出被測樣品的電容和損耗因數(shù)，進而得到介電常數(shù)和介質損耗因數(shù)。